hh.sePublikationer
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Measuring homogeneity of planar point-patterns by using kurtosis
Högskolan i Halmstad, Sektionen för Informationsvetenskap, Data– och Elektroteknik (IDE).
2000 (Engelska)Ingår i: Pattern Recognition Letters, ISSN 0167-8655, E-ISSN 1872-7344, Vol. 21, nr 13-14, s. 1149-1156Artikel i tidskrift (Refereegranskat) Published
Abstract [en]

Kurtosis is generally associated with measurements of peakedness of a distribution. In this paper, we suggest a method where kurtosis can be used as a measure of homogeneity of any quantifiable property on a planar surface. A 2-dimensional, continuous and uniform distribution has kurtosis equal to 5.6. This value is also the limiting value for a discrete uniform distribution defined on a regular, rectangular grid when the number of grid points tend to infinity. Measurements of a planar surface, taken at regular grid points, are considered as realizations of random fields. These are associated with 2-dimensional random variables from which the value of kurtosis can be computed and used as a measure of the homogeneity of the field. A deviation from 5.6 indicates that the stochastic variable is not uniformly distributed and that the corresponding random field is not homogeneous. The model is applied on the spatial variation of the roughness on the surface of newsprint, an application where homogeneity is very important.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
Amsterdam: Elsevier , 2000. Vol. 21, nr 13-14, s. 1149-1156
Nationell ämneskategori
Data- och informationsvetenskap
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:hh:diva-3431DOI: 10.1016/S0167-8655(00)00076-3ISI: 000165759000008Scopus ID: 2-s2.0-0034541122OAI: oai:DiVA.org:hh-3431DiVA, id: diva2:295183
Tillgänglig från: 2010-02-17 Skapad: 2009-12-01 Senast uppdaterad: 2018-03-23Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

Förlagets fulltextScopus

Personposter BETA

Johansson, Jan-Olof

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Johansson, Jan-Olof
Av organisationen
Sektionen för Informationsvetenskap, Data– och Elektroteknik (IDE)
I samma tidskrift
Pattern Recognition Letters
Data- och informationsvetenskap

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
urn-nbn
Totalt: 97 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf