hh.sePublikationer
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Pre-registration for Improved Latent Fingerprint Identification
Universidad Autonóma de Madrid, Madrid, Spain.
Universidad Autonóma de Madrid, Madrid, Spain.ORCID-id: 0000-0002-6343-5656
Universidad Autonóma de Madrid, Madrid, Spain.ORCID-id: 0000-0001-5998-1489
Universidad Autonóma de Madrid, Madrid, Spain.ORCID-id: 0000-0003-0557-1948
Visa övriga samt affilieringar
2014 (Engelska)Ingår i: 2014 22nd International Conference on Pattern Recognition (ICPR) / [ed] Lisa O’Conner, Los Alamitos: IEEE Computer Society, 2014, s. 696-701Konferensbidrag, Publicerat paper (Refereegranskat)
Abstract [en]

Comparing a latent fingerprint minutiae set against a ten print fingerprint minutiae set using an automated fingerprint identification system is a challenging problem. This is mainly because latent fingerprints obtained from crime scenes are mostly partial fingerprints, and most automated systems expect approximately the same number of minutiae between query and the reference fingerprint under comparison for good performance. In this work, we propose a methodology to reduce the minutiae set of ten print with respect to that of query latent minutiae set by registering the orientation field of latent fingerprint with the ten print orientation field. By reducing the search space of minutiae from the ten print, we can improve the performance of automated identification systems for latent fingerprints. We report the performance of our registration algorithm on the NIST-SD27 database as well as the improvement in the Rank Identification accuracy of a standard minutiae-based automated system. © 2014 IEEE.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
Los Alamitos: IEEE Computer Society, 2014. s. 696-701
Serie
International Conference on Pattern Recognition, ISSN 1051-4651
Nationell ämneskategori
Elektroteknik och elektronik
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:hh:diva-25869DOI: 10.1109/ICPR.2014.130ISI: 000359818000118Scopus ID: 2-s2.0-84919933102ISBN: 978-1-4799-5208-3 (tryckt)OAI: oai:DiVA.org:hh-25869DiVA, id: diva2:728946
Konferens
22nd International Conference on Pattern Recognition, Stockholm, Sweden, August 24-28, 2014
Projekt
BBfor2
Forskningsfinansiär
EU, FP7, Sjunde ramprogrammet, FP7-ITN-238803
Anmärkning

R.K. was supported by a Marie Curie Fellowship under project BBfor2 (FP7-ITN-238803). This work has also been partially supported by Spanish Guardia Civil, Cátedra UAM-Telefónica, and projects Bio-Shield (TEC2012-34881) and Contexts (S2009/TIC-1485).

Tillgänglig från: 2014-06-25 Skapad: 2014-06-25 Senast uppdaterad: 2018-03-22Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

fulltext(391 kB)273 nedladdningar
Filinformation
Filnamn FULLTEXT01.pdfFilstorlek 391 kBChecksumma SHA-512
dc4049b4bbab8c4a9f84552d61b0de307fe34d752fb88ce949c6c2f95e044e88b13f20d1eafd245e1cbfd80c4a2a3bc3fa8516209790f9c97bb3e9acf47d604e
Typ fulltextMimetyp application/pdf

Övriga länkar

Förlagets fulltextScopus

Personposter BETA

Fierrez, JulianRamos, DanielOrtega-Garcia, JavierBigun, Josef

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Fierrez, JulianRamos, DanielOrtega-Garcia, JavierBigun, Josef
Av organisationen
CAISR Centrum för tillämpade intelligenta system (IS-lab)
Elektroteknik och elektronik

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar
Totalt: 273 nedladdningar
Antalet nedladdningar är summan av nedladdningar för alla fulltexter. Det kan inkludera t.ex tidigare versioner som nu inte längre är tillgängliga.

doi
isbn
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
isbn
urn-nbn
Totalt: 258 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf