hh.sePublikasjoner
Endre søk
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Towards New Interferometer Technology for Surface Metrology
Högskolan i Halmstad, Akademin för ekonomi, teknik och naturvetenskap, Maskinteknisk produktframtagning (MTEK), Fotonik.ORCID-id: 0000-0002-4826-019X
Högskolan i Halmstad, Akademin för ekonomi, teknik och naturvetenskap, Maskinteknisk produktframtagning (MTEK), Funktionella ytor.ORCID-id: 0000-0001-8058-1252
2012 (engelsk)Inngår i: Proceedings of the 12th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology: June 4th - 7th [8th] 2012, Stockholm, Sweden. Vol. 1 / [ed] P. Shore, H. Spaan & T. Burke, Bedford: EUSPEN , 2012, Vol. 1, s. 158-161Konferansepaper, Publicerat paper (Fagfellevurdert)
Abstract [en]

There is an increasing requirement from manufacturing industries for improved technologies to measure surface topography. New instruments have to be accurate; robust to be used on the industry floor; non-invasive; automatic; and sufficiently fast to be used in real time as well as to simultaneously measure over a large area. The industrial applications are plenty:

  • On-line quality control of machined parts,
  • Direct feed back to the manufacturing process,
  • Analysis and selection of surface texture/structure.

This paper presents new developments in interferometer techniques for new robust area-based topographic instruments.

sted, utgiver, år, opplag, sider
Bedford: EUSPEN , 2012. Vol. 1, s. 158-161
Emneord [en]
interferometry, surface metrology
HSV kategori
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:hh:diva-19612Scopus ID: 2-s2.0-84911430647ISBN: 978-0-9566790-0-0 (tryckt)OAI: oai:DiVA.org:hh-19612DiVA, id: diva2:552460
Konferanse
12th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology (EUSPEN 2012), June 4th-7th, 2012, Stockholm, Sweden
Forskningsfinansiär
EU, FP7, Seventh Framework ProgrammeTilgjengelig fra: 2012-09-17 Laget: 2012-09-14 Sist oppdatert: 2018-01-12bibliografisk kontrollert

Open Access i DiVA

fulltext(161 kB)262 nedlastinger
Filinformasjon
Fil FULLTEXT01.pdfFilstørrelse 161 kBChecksum SHA-512
8a7031bed1d178f02e22114b5ec1b22736233715efd52756486322fd1a424ce722e4d7554ffd42e2e7d6600be7b723f3289b591910d3daf1a032f8be4eedc64a
Type fulltextMimetype application/pdf

Scopus

Personposter BETA

Bååth, LarsRosén, Bengt-Göran

Søk i DiVA

Av forfatter/redaktør
Bååth, LarsRosén, Bengt-Göran
Av organisasjonen

Søk utenfor DiVA

GoogleGoogle Scholar
Totalt: 262 nedlastinger
Antall nedlastinger er summen av alle nedlastinger av alle fulltekster. Det kan for eksempel være tidligere versjoner som er ikke lenger tilgjengelige

isbn
urn-nbn

Altmetric

isbn
urn-nbn
Totalt: 555 treff
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf